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食品級(jí)金屬探測(cè)器 對(duì)食品制造商的質(zhì)量保證和產(chǎn)品安全至關(guān)重要。如何測(cè)試您的設(shè)備靈敏度以確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性?以下是我們收集的有關(guān)食品金屬探測(cè)器 (包括多頻掃描食品金屬探測(cè)器), 儀器和設(shè)備測(cè)試十個(gè)最常見問題解答,以及它們的最佳實(shí)踐答案。
A: 探測(cè)頭的尺寸是基于產(chǎn)品包裝的尺寸。要求盡可能地模擬實(shí)際生產(chǎn)條件,包括速度、溫度和產(chǎn)品方向等。
A: 對(duì)于大多數(shù)應(yīng)用,建議將食品金屬探測(cè)器的探測(cè)孔設(shè)置為比要檢測(cè)的最大產(chǎn)品包裝的寬度和高度都大2英寸。
A: 對(duì)于潮濕和導(dǎo)電的產(chǎn)品,將產(chǎn)品包裝垂直放在探測(cè)頭中心,確保包裝上方和下方的距離相同。通常這意味著探測(cè)頭高度將大于推薦的標(biāo)準(zhǔn)尺寸。這有助于通過將產(chǎn)品從線圈移開以減少產(chǎn)品產(chǎn)生的信號(hào),降低產(chǎn)品效應(yīng)。
A: “冷凍”是一個(gè)通用術(shù)語(yǔ)。對(duì)于金屬檢測(cè),您需要了解的關(guān)鍵是檢測(cè)結(jié)果會(huì)因?yàn)閷?shí)際的產(chǎn)品溫度和狀態(tài)發(fā)生巨大變化。完全徹底冷凍的產(chǎn)品通??梢韵窀稍锂a(chǎn)品一樣“學(xué)習(xí)”被自動(dòng)認(rèn)識(shí)和記憶,幾乎沒有產(chǎn)品效果。相反,部分冷凍的產(chǎn)品通過金屬檢測(cè)器的情況會(huì)有很大不同,并且由于車間生產(chǎn)條件在當(dāng)天的生產(chǎn)中發(fā)生變化,可能會(huì)導(dǎo)致過多的假陽(yáng)性報(bào)警。理想情況下,最好控制在一定的生產(chǎn)環(huán)境中以固定的溫度和狀態(tài)設(shè)置冷凍食品行業(yè)的金屬探測(cè)器,進(jìn)行金屬探測(cè)作業(yè)。
A: 默認(rèn)靈敏度設(shè)置是比“學(xué)習(xí)”記憶過程中遇到的峰值信號(hào)低6db(或50%)。如果檢測(cè)產(chǎn)品種類多,信號(hào)不一致,這通常是較為安全的設(shè)置。但如果產(chǎn)品信號(hào)非常一致,則可以將靈敏度提高到峰值信號(hào)以下3db(或30%)。將檢測(cè)閾值設(shè)置為標(biāo)準(zhǔn)金屬探測(cè)器的最大產(chǎn)品信號(hào)的1.2至1.5倍。對(duì)于多頻掃描食品金屬探測(cè)器,靈敏度測(cè)試的最佳方案是將入相和出相的信號(hào)設(shè)置為比警報(bào)信號(hào)(36dB)小3dB(1.4X)。
A: 對(duì)于所有食品級(jí)金屬探測(cè)器,要求盡可能消除背景噪音。然后從制造商的默認(rèn)設(shè)置開始。確保使用實(shí)際的產(chǎn)品樣品用于金屬探測(cè)器設(shè)置,能自動(dòng)認(rèn)識(shí)和記憶產(chǎn)品特點(diǎn),有效排除各種“產(chǎn)品效應(yīng)”產(chǎn)生的干擾。
A: 可以將金屬球放置在包裝上的多個(gè)位置,要求始終將金屬盡量保持在探測(cè)頭高度中線和包裝盒中部。測(cè)試前端和尾端,兩側(cè),包裝的絕對(duì)中心(盡可能)和頂部。確定在所有位置能檢測(cè)到的最小金屬。
A: 當(dāng)金屬在標(biāo)準(zhǔn)食品級(jí)金屬探測(cè)器的前緣或后緣漏檢時(shí),需要根據(jù)制造商的建議調(diào)整靈敏度,并在需要時(shí)增加金屬尺寸直至能夠檢測(cè)到。
A: 眾所周知,由于鐵的磁性,含鐵金屬是最容易被檢測(cè)的金屬。磁石吸鐵,當(dāng)污染物是含鐵金屬時(shí),電磁場(chǎng)反應(yīng)最強(qiáng),頻率越低,效應(yīng)越強(qiáng)。相反,僅含有少量鐵成分的不銹鋼幾乎沒有或完全沒有磁性。要想通過金屬探測(cè)器發(fā)現(xiàn)不銹鋼,需要高頻運(yùn)行,因?yàn)楦哳l場(chǎng)會(huì)在不銹鋼中產(chǎn)生渦流電流,這會(huì)產(chǎn)生一個(gè)新的高頻電磁場(chǎng),與金屬探測(cè)器中的原始磁場(chǎng)相互作用以產(chǎn)生信號(hào)。
A: 小金屬異物產(chǎn)生的信號(hào)非常小。因此當(dāng)金屬探測(cè)器在工廠中運(yùn)行時(shí),周圍環(huán)境中會(huì)具有許多噪聲干擾源可能影響金屬探測(cè)器電子設(shè)備和軟件的性能。因此您需要確保已經(jīng)解決了一些可能會(huì)影響檢測(cè)的因素:
大型電機(jī)的開啟和關(guān)閉
電廣播廣譜輻射噪聲
生產(chǎn)設(shè)備振動(dòng),避免金屬探測(cè)器的天線即使輕微移動(dòng)
電網(wǎng)電壓波動(dòng)和閃變
溫度從冷凍到沸騰的往返變化
請(qǐng)注意,不是所有金屬探測(cè)器都按照相同的方式運(yùn)行或執(zhí)行。請(qǐng)咨詢您的設(shè)備制造商,了解具體的使用說明.
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